在軟件測試過程中，可以將度量分為兩大類：
1)衡量測試效率和測試工作量 - 工作量指標(biāo)
例如，測試效率評價、測試進(jìn)度S曲線等.
2)從質(zhì)量的角度表明測試的結(jié)果 - 結(jié)果指標(biāo)
例如，缺陷數(shù)量、到達(dá)模式、系統(tǒng)崩潰和掛起的次數(shù)等.
測試過程S曲線
追蹤測試過程也許是軟件測試階段管理中最重要的追蹤任務(wù)。建議的一種度量是測試過程一段時間內(nèi)的S曲線。S曲線的X坐標(biāo)代表時間單位，Y坐標(biāo)代表測試用例數(shù)目或測試點數(shù)目。之所以稱為S曲線，意味著數(shù)據(jù)隨著時間而積累、并由于密集的測試活動而呈現(xiàn)出S的形狀，造成一個坡度很大的測試斜面。圖中必須包含下列信息：
1)每周(或天、小時)嘗試的測試用例數(shù)目或測試點數(shù)目
2)每周計劃的測試用例數(shù)目或測試點數(shù)目
3)每周成功完成的測試用例數(shù)目或測試點數(shù)目
這個度量的目的在于追蹤測試進(jìn)度，將其與計劃進(jìn)行比較，可以及時得到測試行為滯后的信息，從而盡早采取措施。眾所周知，當(dāng)進(jìn)度壓力非常大時，測試、特別是開發(fā)階段的測試會受到很大影響。如果有一個合適的正式的測試進(jìn)度度量，開發(fā)團(tuán)隊就不容易忽視這個問題。從項目計劃的角度來說，S曲線迫使團(tuán)隊更好的計劃整個項目。
基于時間的缺陷到達(dá)
測試階段的缺陷追蹤和管理對所有的軟件測試都是值得推薦的。
相對產(chǎn)品發(fā)布時間來說，缺陷到達(dá)何時達(dá)到峰值?當(dāng)前版本的缺陷到達(dá)模式與前面的版本相比如何?達(dá)到的峰值是多少?在發(fā)布前缺陷到達(dá)是否降低到一個低而穩(wěn)定的水平?以上這些問題都是缺陷到達(dá)度量的關(guān)鍵，對產(chǎn)品在領(lǐng)域中應(yīng)用的質(zhì)量有重要意義，因為這些問題都暗示著將來產(chǎn)品的質(zhì)量。
比較好的缺陷到達(dá)模式應(yīng)當(dāng)是這樣的：早期到達(dá)率較高，峰值到達(dá)的較早，在產(chǎn)品發(fā)布日期前到達(dá)率就降低到一個較低的層次。
基于時間的缺陷積壓
任何給定時間內(nèi)遺留的測試缺陷定義為缺陷積壓，簡單來說，缺陷積壓就是到達(dá)的缺陷與修復(fù)的缺陷之間的累積數(shù)目之差。從測試進(jìn)度的角度來說，缺陷積壓的追蹤和管理是非常重要的。
開發(fā)過程中大量的問題積壓會妨礙測試進(jìn)程
當(dāng)產(chǎn)品將要發(fā)布給用戶時，存在大量的缺陷積壓意味著在開發(fā)周期已經(jīng)發(fā)現(xiàn)的很多缺陷將在用戶使用時重現(xiàn)。
但是，在開發(fā)過程中，降低缺陷積壓不一定就是優(yōu)先級最高的任務(wù)。
如果當(dāng)前的重要開發(fā)活動是功能測試，管理缺陷積壓就不應(yīng)當(dāng)具有最高的優(yōu)先級，重點應(yīng)當(dāng)一直放在測試效率和測試執(zhí)行上，鼓勵最大可能的發(fā)現(xiàn)缺陷。
如果當(dāng)前階段的主要目標(biāo)是修復(fù)可能危害測試進(jìn)程的重大缺陷上，就不必把工作重點放在降低整個缺陷積壓上
在測試將要結(jié)束時，重點就應(yīng)當(dāng)放在大幅度降低缺陷積壓上
推薦以下的全局測試管理方法：
1)當(dāng)測試計劃制訂好，有效性已經(jīng)通過審核并被接受，管理測試進(jìn)度，從而盡早獲得S曲線的早期上升斜面
2)監(jiān)控缺陷到達(dá)，分析問題，從而獲得如何采取改進(jìn)行動的信息。不要認(rèn)為的控制缺陷到達(dá)，這是與測試效率、測試進(jìn)度和代碼內(nèi)在質(zhì)量(代碼中潛伏的缺陷數(shù))都有關(guān)的。
3)加強(qiáng)管理缺陷積壓的降低，力圖達(dá)到預(yù)期目標(biāo)，危害測試進(jìn)程的已知缺陷應(yīng)當(dāng)賦予最高的優(yōu)先級
