新生兒驚厥(neonatal seizures)發(fā)生率為1.8‰～3.5‰，是新生兒重癥監(jiān)護病房(NICU)患兒最常見的神經(jīng)系統(tǒng)癥狀。驚厥病因較復雜，反復驚厥發(fā)作可導致嚴重神經(jīng)系統(tǒng)后遺癥，如智力低下、腦性癱瘓(簡稱'腦癱' )和癲癇等。
新生兒驚厥與癲癇的關系目前尚不明確。有新生兒驚厥病史的患兒可出現(xiàn)反復癲癇發(fā)作，約四分之三發(fā)生在1歲前，少數(shù)發(fā)生在5歲前。與普通人群相比，新生兒驚厥增加了后期患癲癇的風險。新生兒驚厥后癲癇發(fā)病率1.8%～41.3%不等。依靠臨床表現(xiàn)診斷新生兒驚厥的患兒癲癇發(fā)生率為41.3%；通過腦電圖證實為新生兒驚厥的患兒癲癇發(fā)生率為37.5%；但多數(shù)報道新生兒驚厥后癲癇發(fā)生率在18%～25%之間。新生兒驚厥后癲癇發(fā)生率與臨床診斷方法和隨訪時間不同有關。
新生兒驚厥預后與腦損傷的嚴重程度及引起新生兒驚厥的主要病因有關。流行病學資料證實，新生兒驚厥后發(fā)生癲癇是圍產(chǎn)期腦損傷嚴重程度的一個重要標志。體格檢查神經(jīng)系統(tǒng)嚴重異常、異常腦電圖背景及磁共振中彌散加權成像異常是新生兒驚厥患兒發(fā)生癲癇的危險因素。多數(shù)病例出現(xiàn)神經(jīng)影像學異常表明中樞神經(jīng)系統(tǒng)嚴重受損，從而引起癇樣放電。研究發(fā)現(xiàn)，出現(xiàn)繼發(fā)性癲癇的所有兒童均有顱內(nèi)損傷，其中基底核受累最常見。重癥腦病患兒或近全腦損傷患兒癲癇發(fā)生的可能性更高。基底節(jié)/丘腦損傷患兒中20%發(fā)生癲癇，分水嶺損傷患兒12%發(fā)生癲癇。新生兒驚厥可加重腦損傷，增加癲癇發(fā)生率。
以往研究結果顯示，如果新生兒驚厥持續(xù)3 d以上，預測約40%發(fā)生癲癇。有學者試圖量化發(fā)作頻率，認為如果新生兒驚厥發(fā)作頻率每小時超過10次，則與癲癇的發(fā)病密切相關。最近更多研究表明，比起發(fā)作頻率，新生兒驚厥持續(xù)狀態(tài)更能預測癲癇發(fā)生，新生兒驚厥經(jīng)過藥物治療效果不佳出現(xiàn)耐藥性驚厥時，也是癲癇發(fā)生的重要危險因素。有研究報道，如果新生兒驚厥在出生后48 h內(nèi)控制、應用兩種以下抗癲癇藥，隨訪期間不會發(fā)生癲癇。但若未能及時控制新生兒驚厥，即使聯(lián)合應用2種以上抗癲癇藥也會出現(xiàn)非常嚴重的神經(jīng)系統(tǒng)后遺癥。
有學者通過分析新生兒驚厥的發(fā)作類型判斷患兒預后。起初的研究認為強直型發(fā)作預后差，而Brunquell等發(fā)現(xiàn)微小發(fā)作和全面強直發(fā)作較其他發(fā)作類型有更高的癲癇、智力低下和腦癱發(fā)病風險。雖早期認為超過2種發(fā)作類型的新生兒更有可能發(fā)生癲癇，但是后期研究并未發(fā)現(xiàn)通過一種或多種發(fā)作類型有效預測癲癇。引起新生兒驚厥的病因很多，最常見病因為缺氧缺血性腦病，但很難確定新生兒基礎病因與將來發(fā)展為癲癇的關系。
曾有研究將發(fā)作頻率作為癲癇嚴重性的指標，結果顯示NICU中26.9%的驚厥患兒每周超過一次驚厥發(fā)作，另有研究結果顯示66.7%的住院驚厥患兒每月至少一次發(fā)作甚至出現(xiàn)反復驚厥發(fā)作，這些患兒癲癇發(fā)生率都很高。
新生兒驚厥后癲癇的評估取決于病例選擇標準和隨訪時間。癲癇是比較常見的新生兒驚厥后遺癥，尤其在存在嚴重腦損傷和其他神經(jīng)發(fā)育障礙的新生兒更明顯。一些嚴重發(fā)作類型及癲癇綜合征明顯增加了治療的難度。隨著新的診斷標準和檢測設備的應用，以及對癲癇的進一步認識和替代或補充治療方案的應用，新生兒驚厥后癲癇的流行病學資料或許發(fā)生改變，這種現(xiàn)象有待進一步研究。
引用本文: 孫偉偉, 李麗君. 新生兒驚厥后癲癇 [J] . 中華新生兒科雜志,2017,32 (1): 78-78. DOI: 10.3969/j.issn.2096-2932.2017.01.022
